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Nepcon 上海 – 中国

像往年一样SEICA中国将在中国最重要的电子展上展示最新的测试系统和制造解决方案

2010 年 4 月 20-22日，在 Nepcon上海，展厅 1，展位 4F01，测试和测量专家SeicaSPA将展示最新的测试系统和制造解决方案。

 

2010年3 月，意大利，Strambino - Seica 的创新测试解决方案正在被用于在全球范围内提高质量、 提高工作效率和节省汽车、 军事和消费电子市场等领域的成本。测试和生产的解决方案的主要供应商将再一次展出，他们在印制电路板设计与制造、 电子装配和测试中最新的和最先进的技术，例如：

飞针Pilot VIP
Pilot VIP代表了对于想要实现飞针测试的完全自动化，而且不需要连续工作的操作员在现场对测试系统进行管理的最佳解决方案。因为其集成了SMEMA输送系统，使Pilot VIP可以与自动装/卸载板系统连接，或在线，它实现了将在线测试，功能测试和光学检测的完全自动化，将所有的测试内容和测试技术集成在单个测试程序中。

Pilot VIP的水平结构，包含了自动传输系统和自动夹板系统，也可以使用框架/运送器和支撑夹具来便于使用固定通道、Openfix传感器和电源连接，从而最大限度的提高测试程序的覆盖率。这些固定资源放置在被测单元下面的自动升降平台上，以使它们能够在自动模式下应用，而无需操作人员的进一步干预。

其610 x 610 毫米的测试区域使Pilot VIP能够处理超大的电路板或拼板，ATE架构强大的扩展能力可以使其扩展到1032个模拟通道，用来连接外部针床测试夹具（TPM）。事实上，VIP 软件平台允许用户根据生产需求使用飞针或针床夹具来运行同样的测试程序。

 Nepcon上海的新产品 -FLYScan 模块

旨在进一步丰富其一系列测试和维修电路板的解决方案，Seica与Temento Systems合作开发了 FlyScan 模块，作为一种新的方法来将边界扫描技术和飞针测试系统集成在一起。FlyScan的实用创新现在可以用于整个Pilot/Aerial飞针测试机系列上，这一核心系统的完整组合可以确保在具有价格优势的情况下，具备下列功能：

•在单一的软件环境 (Seica VIVA) 下测试程序自动生成
•自动生成边界扫描程序，也可用于非JTAG类型网络，使用“扩展测试”功能和飞针将其转换为“JTAG可测”网络
•自动消除冗余的测试
•故障自动诊断，针对故障元件飞针系统可以即时生成附加测试来执行个别确认测试 
• VIVA环境下的单一测试报告
•在 Seica维修站环境中可以处理由边界扫描测试发现的故障

PTE 100
PTE-100是基于 Seica 的标准 VIP 架构的一个智能便携测试盒，它包括DSP ACL 模块，还结合了多种不同仪器的特征，如：电压发生器、 电流发生器、 波形发生器、 电压表、 电流表、 频率计、 示波器，具有典型的自动测试系统特征。它还配备了中端电源继电器矩阵 (500V @ 2A) 和最多 256 个具有开关和中断功能的输入/输出通道。PTE-100 是诊断和识别一些在直升机、 火车、 飞机上的和通过带有中断连接器的电缆来互联的电子模块组成的电子系统故障的理想选择。PTE-100连接在两个模块之间来监视互相连接的电缆上的活动，并能执行激励/测量操作，也能简单连接/断开电缆本身的每个单独的电线，以帮助专家用户来诊断问题所在。