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BIAS - 4-7 maggio - Milano

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Biennale dell’automazione della strumentazione della produzione e della componentistica elettronica

SEICA ha scelto di partecipare all’edizione 2010 del BIAS con la formula sperimentale di non esporre sistemi, ma di parlare di Innovazione e Tecnologia mettendo al centro del discorso le esigenze del cliente. In tal modo i visitatori dello stand SEICA, con le loro problematiche tecniche, sono diventati i veri protagonisti di questo incontro e le novità sono state presentate nell’ottica di una consulenza volta alla ricerca della migliore soluzione.

La linea PILOT dei sistemi Flying probe si presenta rinnovata nella carrozzeria, nel colore e nel logo e può essere equipaggiata di modulo FlyScan, che permette l’utilizzo della tecnica boundary scan su Flying probe e di modulo Thermal Scan, che è in grado di rilevare i guasti dei componenti confrontandone la temperatura. Sono disponibili 3 modelli: Pilot M4, con architettura verticale a 4 sonde mobili, Pilot V8, con architettura verticale a 8 sonde mobili e Pilot L4, con architettura orizzontale a 4 sonde mobili che costituisce la miglior scelta per automatizzare il collaudo.

Nella famiglia dei sistemi di test in-circuit  e funzionale nasce la linea COMPACT che, accanto una particolare attenzione agli aspetti ergonomici della produzione in linea, garantisce anche il rispetto dell’architettura WCM (World Class Manufacturing), il collaudo In-circuit, funzionale e OBP,   il Test Parallelo su più schede e permette la realizzazione di Fixture a basso costo.