Sistema Flying Probe Pilot V8 Next> series – Sistema a sonde mobili

Il sistema Pilot V8 Next> series rappresenta un’importante innovazione tecnologica nel collaudo Flying Probe con accesso da entrambi i lati della scheda, in grado di superate i limiti intrinseci dei sistemi orizzontali. La sua architettura verticale è la soluzione ottimale per testare contemporaneamente entrambi i lati dell’UUT, aumentando così produttività e flessibilità dei test e garantendo al contempo un rilevamento rapido, preciso, affidabile, ripetibile e la piena disponibilità e utilizzo di tutte le risorse mobili per il test della scheda.

PRESTAZIONI DI TEST:
– In-Circuit test
– Test funzionale
– Test funzionale Power on
– OTPN (One Touch Per Net) con Fnode per rilevare cortocircuiti aperti e Impedenza nodale
– OPENFIX
– On-Board Programming
– Boundary Scan
– Thermal Test
– LED Test
– FLYSTRAIN (Real time)
– LASER warpage compensation

Per maggiori informazioni contatta: sales@seica.com.