„Seica lädt Sie herzlich zum Webinar „Full Probe Card Test: Overcome the limits of MLO“ am 18. März 2021 ein.
Wir werden die neueste Technologie analysieren, die für das Fixture lose Testen selbst der anspruchsvollsten Probe Cards verfügbar ist, und zwar durch hochpräzises, stoßarmes Antasten aller Arten von Schaltungen auf allen Arten von Materialien, einschließlich MLOs.
