Innovation, Automation und Optimierung: dies sind die drei Schlüsselworte die die neuen Testlösungen für elektronische Leiterplatten unterstreichen, welche dieses Jahr auf dem Seica Stand der Electronica gezeigt werden. Drei vollautomatisierte Testsysteme geben einen umfassenden Überblick von Seica’s VIP Plattform, angefangen von In-Circuit bis Funktionstest, von Flying Probe Test bis Standard, In-Circuit Test über Nadelbettadaption, mit
