LEVEL III: ValidATE und ValidAte Plus

ValidATE Entwickelt für den Elektroniktesteinsatz, auch unter Berücksichtigung von zukünftigen Implementierungen, so beinhaltet das ValidATE System komplette Testlösungen um Systeme wie GR179X, GR275X, L200, L300, Schlumberger S7XX und andere zu ersetzen. Die offene und modulare Architektur seiner Hard- und Software Komponenten machen die Valid Technologie bereit, auch für die Valid MT Lösungen, um die Anforderungen von STE Systemintegratoren zu genügen, oder um neue Elektroniken auf alte Tester zu bringen um die veralteten zu ersetzen. Die ValidATE bietet exzellente Eigenschaften wie:

• 25MHz digitaler Funktionstest, mit bis zu 1024 I/O Kanälen
• Parallel analoger Funktionstest mit bis zu 256 I/O Kanälen (1:1)
• DSP integrierte Instrumente zum Einspeisen und Messen
• 3D-Routing Architektur um gleichzeitig COTS Geräte zu implementieren
• Automatisierte Instrumente zur Fehlerdetektion auf digitalen und analogen Schaltungen von SRU
• Gleichzeitiges Testen mit digitalen, analogen und seriellen Signalen für die LRU Validierung

ValidATE Plus ValidATE Plus ist elektrisch das Gleiche wie das ValidATE System. Die Ergonometrien sind so geändert, dass es die kombinierten Anforderungen von In-Circuit und Funktionstest am besten entsprechen, z.B. wenn ein Nadelbettadapter besser geeignet ist. Zusammen mit der Fähigkeit sorgfältig die Funktionalität einer digitalen, analogen und mixed-mode Schaltung zu überprüfen, kann die ValidATE Plus die Applikation erweitern durch Power-Off, Struktur- und Power-On In-Circuit Testtechniken. Das System kombiniert Best-in Class Lösungen für den Baugruppentest um der Leistungsfähigkeit, Umfang und den Fehlerlokalisierungseigenschaften zu entsprechen. Das System übernimmt die Vorteile von allen Techniken die die Testgenerationskosten reduzieren, ohne die Fehlerabdeckung oder Durchsatz zu beeinträchtigen. Power-Off Strukturtests, die beides Junction und kapazitive Techniken verwenden, werden zuerst verwendet um einfache Fertigungsfehler zu finden. Power-On In-Circuit Tests, analoge und digitale, einschließlich Erweiterungen mit IEEE 1149 Techniken, werden dann über die nicht-gemultiplexten Hybridkanäle des Systems eingespeist. Wo erforderlich, kann eine schnelle On Board Programmierungs (OBP) Operation durchgeführt werden. Schlussendlich, kann die volle Leistungsfähigkeit eines Funktionstests die Funktionalität des Prüflings sicherstellen.