Seica auf der Productronica: Eine Hochburg für intelligente Innovationen, hohe Leistung und integrierte Lösungen.
Die aktive Zusammenarbeit mit Kunden, um deren Bedürfnisse und Herausforderungen zu verstehen, sowie das fundierte Fachwissen, das Seica durch jahrzehntelange Erfahrung in der Entwicklung von Testlösungen erworben hat, haben das Unternehmen zu einer Hochburg für intelligente Innovationen gemacht, das in der Lage ist, hochmoderne, leistungsstarke und integrierte Testlösungen anzubieten. Besucher des Standes A1-538 auf der Productronica 2025 in München können sich die neuesten Lösungen von Seica für die Prüfung von Elektronikplatinen, Modulen und Halbleitern ansehen. Da die Automatisierung zu einem Schlüsselfaktor für die Optimierung der heutigen Fertigungsprozesse geworden ist, werden auf der Messe auch die fortschrittlichen Prozessautomatisierungsfunktionen von Seica vorgestellt, womit offiziell die Feierlichkeiten zum bevorstehenden 40-jährigen Jubiläum im Jahr 2026 eingeläutet werden.
Die führende Flying-Probe-Testlösung von SEICA, der Pilot VX, wird mit einer überarbeiteten, modernen Designplattform mit einzigartigen Optionen wie FlyPod und FlyStrain™ sowie der optimierten VIVA-Softwareverwaltung vorgestellt. Er ist der Goldstandard in Bezug auf Geschwindigkeit und Leistung von Flying Probes und ein äußerst leistungsstarkes Werkzeug, das in jeder Phase des heutigen beschleunigten Produktlebenszyklus eingesetzt werden kann, vom Konzept über das Design und den Prototyp bis hin zur Produktion.
Der PILOT VX ist vollautomatisiert und ermöglicht dank seiner hochmodernen mechanischen Architektur und proprietären Bewegungssteuerungen eine Reduzierung der Testzeit um bis zu 50 %. 12 Multifunktions-Prüfköpfe ermöglichen die doppelseitige Prüfung von bis zu 60 Punkten gleichzeitig.
Eine technologisch fortschrittliche Messhardware mit der Fähigkeit, die Platine (bis zu 2 A pro Sonde) über alle 8 Standard-Elektrosonden mit Strom zu versorgen, und eine neue mikrowellenbasierte Messtechnik sorgen für eine unübertroffene Testleistung. Hinzu kommt eine neue Generation von LED-Sensoren, die sichtbare und infrarote Sensoren in einem einzigen All-in-One-Gerät vereinen, sowie ein 750+ MHz Flying Oscilloscope, das neue Grenzen in Hochfrequenzanwendungen setzt. Die VIVA™-Softwareplattform spart noch mehr Zeit, indem sie die Parallelisierung verschiedener Testarten ermöglicht, und intelligente Analysefunktionen auf Basis künstlicher Intelligenz können den Testablauf in der Laufzeit automatisch optimieren.
Die Besucher können außerdem zwei neue Lösungen kennenlernen, die neuesten Ergänzungen der Valid-Plattform von Seica, die für ihre leistungsstarken In-Circuit- und Funktionstests über ein Nadelbett oder einen festen, dem Industriestandard entsprechenden Empfänger bekannt ist.
Der Valid SL wird in einer vollautomatischen PCBA-Fertigungslinie mit Lade-/Entlademodulen, Etikettiergerät und Förderbändern von Seica Automation zu sehen sein. Das Design ermöglicht eine einfache Integration in Produktionsumgebungen mit hohem Durchsatz und bietet Flexibilität, Kosteneinsparungen und erhöhte Produktivität.
Die kabellose Architektur gewährleistet optimale Integrität und Zuverlässigkeit sowie langfristige Wartungsfreundlichkeit. Das Gerät ist mit neuen 128-Kanal-Scannerkarten ausgestattet, die Konfigurationen mit über 4.400 Kanälen ermöglichen und sich ideal für komplexeste Testanforderungen eignen.
Der erweiterte Standard-Testbereich kann als einstufiges oder zweistufiges System konfiguriert werden, und seine Multi-Job-Architektur, die von der neuen Version der VIVA™-Software mit einer neuen Bedienoberfläche unterstützt wird, verbessert die Benutzerfreundlichkeit sowohl für Programmierer als auch für Bediener. Der einfache Zugang zu den internen Hardwaremodulen des Systems gewährleistet eine hervorragende Ergonomie und macht Wartungsarbeiten einfach und effizient.
Der ausgestellte Valid LR ist die neueste Generation der Seica-Plattform, die alle erforderlichen Funktionen zum Ersatz veralteter Altsysteme umfasst und Kunden durch vollständige Testprogrammkompatibilität die Kontinuität etablierter Testprozesse gewährleistet. Seica verfügt über beispiellose Erfahrung in der Bereitstellung von Lösungen zum Ersatz von Altsystemen und kann auf zahlreiche Erfolge beim Ersatz von Altsystemen zahlreicher Marken zurückblicken, wodurch Kunden langfristigen Logistik-Support zu wettbewerbsfähigen Kosten erhalten. Die native Multi-Ressourcen-Architektur des Valid LR bietet die Flexibilität und Leistung, die für die nahtlose Migration bestehender Testprogramme und Vorrichtungen erforderlich ist, und kombiniert die Fähigkeit, ältere Technologien zu unterstützen, mit leistungsstarken, hochmodernen Tools, die dann auch für die Entwicklung neuer Testprogramme zur Verfügung stehen.
Der VALID LR ist auf hohe Skalierbarkeit und Leistung ausgelegt und verfügt über eine innovative, kabellose Architektur, die mit einem 1:8-Digitalmultiplexer bis zu 5888 Kanäle unterstützt. Er bietet bis zu 24 programmierbare Stromversorgungen und gewährleistet so eine flexible Verwaltung von Einschalttests. Die intuitive, anpassbare Bedienoberfläche basiert auf einem SPS-System mit OPC-UA-Kommunikation für die nahtlose Integration in moderne Testumgebungen.
Die neue S20-Reihe umfasst zwei Lösungen für die Prüfung von Leistungshalbleitern.
Der S20 IS³ bietet eine hochmoderne Lösung für die Prüfung diskreter Leistungsbauelemente, einschließlich SiC- und GaN-Technologien. Er wurde sowohl für statische als auch für dynamische Wechselstrom- und Gleichstromprüfungen entwickelt und führt eine genaue und wiederholbare Charakterisierung elektrischer Parameter durch, ein entscheidender Prozess zur Gewährleistung der Zuverlässigkeit und Leistung von Komponenten wie IGBTs, MOSFETs und Dioden.
Damit ist er ein unverzichtbares Werkzeug für Forschung und Entwicklung, Produktion und Qualitätskontrolle. Statische Tests messen wichtige Parameter wie Durchlassspannung (Vce, Vds), Leckstrom (Ic, Id) und Schwellenspannung (Vth) und stellen sicher, dass das Bauelement seine elektrischen Spezifikationen erfüllt, während dynamische Tests die Schalteigenschaften bewerten, darunter Ein-/Ausschaltzeiten, Anstiegs-/Abfallzeiten und Energieverluste, die für reale Anwendungen von entscheidender Bedeutung sind. Durch die Prüfung sowohl statischer als auch dynamischer Parameter können Hersteller potenzielle Fehler erkennen, bevor die Komponenten in Stromversorgungssysteme integriert werden. So lassen sich kostspielige Ausfälle im Feld vermeiden und gleichzeitig sicherstellen, dass die Geräte unter Betriebsbedingungen optimal funktionieren.
Das S20 IS³ verfügt über ein kompaktes, platzsparendes Design mit einer One-Box-Integration von DC-statischen, Gate- und AC-dynamischen Tests. Das System ist konfigurierbar, sodass der Benutzer die Module für die heute benötigten Tests einbinden kann, und erweiterbar, sodass weitere Module hinzugefügt werden können, um neuen Testanforderungen gerecht zu werden. Die integrierte, menügesteuerte Software auf hohem Niveau ist benutzerfreundlich und ermöglicht eine einfache Testkonfiguration. Eine Reihe von Funktionen, wie z. B. das integrierte Oszilloskop, erleichtern den Debugging-Prozess und bieten eine vollständige Rückverfolgbarkeit der Testergebnisse.
Das S20 RTH-Testsystem wurde entwickelt, um eine präzise Charakterisierung des thermischen Widerstands (RTH) mit fortschrittlichen Funktionen für das Energie- und Kühlungsmanagement zu ermöglichen. Bei der Entwicklung moderner Stromversorgungen wird zunehmend Wert auf die elektrische Effizienz des Gesamtsystems und die Sperrschichttemperatur von Halbleiterbauelementen gelegt. Mit dieser Art von Test wird die thermische Belastung von Leistungs-MOSFET-Bauelementen bewertet, wenn diese in Schaltnetzteilen verwendet werden. Anhand dieser Berechnung und der physikalischen Eigenschaften des Bauelements lassen sich die im Übergangsbereich erreichte Temperatur sowie die zulässige Toleranz oder der erforderliche Kühlkörper vorhersagen, um sicherzustellen, dass das System während des Betriebs über eine ausreichende thermische Toleranz verfügt. Dieser Ansatz ist von grundlegender Bedeutung, da eine korrekte Berechnung eine genauere Bewertung der Lebensdauer von Komponenten/Bauelementen ermöglicht und den Betrieb innerhalb des sicheren Betriebsbereichs gewährleistet.
Die Leistungsschalt-Hardware von Seica ist ein Schlüsselelement der Testarchitektur. Sie ermöglicht eine programmierbare, kontrollierte Abschaltung des Laststroms, wodurch Schwingungen minimiert werden und das System bereits 80 µs nach der Hochstromabschaltung präzise Messungen durchführen kann. Die Konfiguration des Prüfstands ist skalierbar und reicht von 2 zu testenden Geräten (DUTs) bis zu 12 parallel getesteten DUTs, je nach Durchsatzanforderungen. Die Temperatur, der Durchfluss und der Druck des Kühlmittels zu jedem DUT werden automatisch vom System gemessen und geregelt, wodurch die thermische Stabilität optimiert und zuverlässige Messungen gewährleistet werden.
Das Spülen der Kühlflüssigkeiten wird vom System entweder in einen eigenständigen Behälter oder in Ihr anlagenweites System übernommen. Diese Funktion vereinfacht die Ersteinrichtung erheblich und kann Temperaturen von bis zu 120 °C und Durchflussraten von bis zu 100 l/min bewältigen.
