Seica präsentiert seine neuesten Innovationen im Bereich Test und Messtechnik auf der EFX 2026
Vom 6. bis 8. Oktober in Stuttgart präsentiert Seica am Stand 9D56 in Halle 9 seine neuesten Lösungen für die Prüfung und Messung von Leiterplatten, Modulen und Halbleitern.
Die Zusammenarbeit mit seinen Kunden und das Know-how, das Seica durch jahrzehntelange Erfahrung in der Entwicklung von Testlösungen erworben hat, haben das Unternehmen zu einem Referenzpunkt für intelligente Innovation gemacht. Dadurch sind wir in der Lage, hochmoderne, leistungsstarke und integrierte Testlösungen anzubieten.
Flexibilität statt hoher Stückzahlen
Die klassische Hochvolumenproduktion verliert in vielen europäischen Märkten an Bedeutung. Stattdessen gewinnen flexible Fertigung, kleinere Losgrößen und eine hohe Produktvielfalt zunehmend an Bedeutung.
Hinzu kommen immer kürzere Produktlebenszyklen und ein zunehmender Zeitdruck: Der Zeitraum von der Entwicklung bis zur Serienproduktion wird kontinuierlich kürzer. Insbesondere bei Prototypen, NPI-Projekten und häufigen Designänderungen muss sich das Testsystem daher schnell und flexibel an neue Anforderungen anpassen lassen.
Gleichzeitig bleiben die Qualitätsanforderungen extrem hoch. Insbesondere bei komplexen Hightech-Produkten sind zuverlässige und reproduzierbare Testergebnisse unerlässlich.
Flying Probe – maximale Flexibilität für die moderne Elektronikfertigung
Genau in diesem Kontext bieten Flying-Probe-Testsysteme entscheidende Vorteile. Ohne den Einsatz kostspieliger Prüfadapter ermöglichen sie eine flexible Prüfung elektronischer Baugruppen – auch bei kleinen Losgrößen, häufigen Variantenwechseln und sich kontinuierlich weiterentwickelnden Designs. Flying Probe entwickelt sich damit von einer Nischenlösung zu einem wichtigen Bestandteil der modernen Elektronikfertigung.
Die entscheidende Frage lautet daher nicht mehr nur: Wie kann ich meine elektronische Baugruppe testen?
Sondern vielmehr:
Wie kann ich komplexe elektronische Systeme schnell, flexibel, zuverlässig und wirtschaftlich testen – auch wenn sich Produkt, Design und Stückzahlen ständig verändern?
Flying-Probe-Testsysteme bieten eine überzeugende Antwort auf diese Herausforderung.
An unserem Stand können Sie den Pilot VX OPERA live erleben – noch schneller und flexibler, ein Flying-Probe-System der neuen Generation.
Profitieren Sie von fundiertem technischem Know-how, Best Practices aus realen Produktionsumgebungen und wertvollen Networking-Möglichkeiten mit Fach- und Führungskräften der Elektronikfertigung.
PILOT VX ist Teil der neuen OPERA Series von Seica, die Anfang Juni offiziell vorgestellt wurde. Die OPERA Series repräsentiert die neue Generation von Testlösungen von Seica, entwickelt, um der zunehmenden Komplexität und den sich wandelnden Anforderungen der modernen Elektronikfertigung gerecht zu werden.
Das PILOT VX Flying-Probe-System als Flaggschiff von Seica bietet Geschwindigkeit, Präzision und eine intelligentere Testdurchführung. Entwickelt für die heute immer kürzeren Produktlebenszyklen – von der Konzeptphase bis zur Produktion – ermöglicht das PILOT VX dank seiner fortschrittlichen mechanischen Architektur und proprietären Bewegungssteuerungen eine deutliche Reduzierung der Testzeit und verkürzt die Zykluszeiten um bis zu 50 %.
Mit 12 multifunktionalen Testköpfen und beidseitigem Probing von bis zu 60 Punkten gleichzeitig bietet das System eine außergewöhnliche Testabdeckung. Hochleistungs-Probing (bis zu 2 A pro Probe), mikrowellenbasierte Messfunktionen und optionale Hochfrequenz-Tools – darunter ein Flying-Oszilloskop mit über 750 MHz – ermöglichen eine außergewöhnliche Diagnosetiefe. Die neueste Generation integrierter LED-Sensoren, die sichtbare und infrarote Technologien kombinieren, erweitert zudem die Inspektionsmöglichkeiten.
