Il sistema Pilot V8 rappresenta un’importante innovazione tecnologica nel collaudo Flying Probe con accesso da entrambi i lati della scheda, in grado di superate i limiti intrinseci dei sistemi orizzontali.
La sua architettura verticale è la soluzione ottimale per testare contemporaneamente entrambi i lati dell’UUT, aumentando così produttività e flessibilità dei test e garantendo al contempo un rilevamento rapido, preciso, affidabile, ripetibile e la piena disponibilità e utilizzo di tutte le risorse mobili per il test della scheda.
PRESTAZIONI DI TEST: – In-Circuit test – Test funzionale – Test funzionale Power on – OTPN (One Touch Per Net) con Fnode per rilevare cortocircuiti aperti e Impedenza nodale – OPENFIX – On-Board Programming – Boundary Scan – Thermal Test – LED Test – FLYSTRAIN (Real time) – LASER warpage compensation