Seica a Productronica: un punto di riferimento per l’innovazione intelligente, le alte prestazioni e le soluzioni integrate.
Il coinvolgimento attivo con i clienti per comprendere le loro esigenze e sfide, insieme alla profonda competenza acquisita in decenni di esperienza nello sviluppo di soluzioni di test per soddisfarle, ha reso Seica un punto di riferimento nell’innovazione intelligente, in grado di fornire soluzioni di test integrate, all’avanguardia e ad alte prestazioni. I visitatori dello Stand A1-538 a Productronica 2025 a Monaco potranno scoprire le ultime soluzioni Seica dedicate al collaudo di schede elettroniche, moduli e semiconduttori.
Poiché l’automazione è diventata un fattore chiave per ottimizzare i processi produttivi odierni, le avanzate capacità di automazione dei processi di Seica saranno protagoniste dell’evento, che segnerà anche l’inizio ufficiale delle celebrazioni per il suo 40° anniversario, previsto nel 2026.
La soluzione di punta di Seica per il test a sonde mobili, Pilot VX, sarà esposta con un design moderno e rinnovato, con opzioni uniche come FlyPod e FlyStrain™ e la gestione ottimizzata tramite software VIVA. Rappresenta lo standard di riferimento in termini di velocità e prestazioni del test a sonde mobili ed è uno strumento estremamente potente, utilizzabile in tutte le fasi dell’attuale ciclo di vita accelerato del prodotto: dal concept, alla progettazione, al prototipo, fino alla produzione.
Il PILOT VX è completamente automatizzato e la sua architettura meccanica all’avanguardia, insieme ai controllori di movimento proprietari, consente una riduzione dei tempi di test fino al 50%.
Le 12 teste di test multifunzione permettono la sonda su entrambi i lati fino a 44 punti simultaneamente. L’hardware di misura avanzato consente di alimentare la scheda (fino a 2A per sonda) tramite tutte le 8 sonde elettriche standard, mentre una nuova tecnica di misura a microonde garantisce prestazioni di test senza rivali. A ciò si aggiunge una nuova generazione di sensori LED che integra in un’unica unità sia sensori visibili sia a infrarossi, oltre a un oscilloscopio volante a 750+ MHz che amplia i limiti delle applicazioni ad alta frequenza. La piattaforma software VIVA™ consente ulteriori risparmi di tempo grazie alla parallelizzazione di diversi tipi di test, mentre le capacità di analisi intelligente basate su principi di intelligenza artificiale possono ottimizzare automaticamente il flusso di test in tempo reale.
I visitatori potranno vedere anche due nuove soluzioni, le ultime nate della piattaforma VALID, rinomata per le elevate prestazioni nei test in-circuit e funzionali tramite bed-of-nails o ricevitori standard industriali.
La Valid SL sarà mostrata in una linea di produzione PCBA completamente automatizzata, con moduli di carico/scarico Seica Automation, applicatore di etichette e nastri trasportatori. Il design consente un’integrazione semplice negli ambienti produttivi ad alto volume, offrendo flessibilità, risparmi sui costi e maggiore produttività.
La sua architettura senza cavi garantisce integrità e affidabilità ottimali, nonché una manutenzione a lungo termine, ed è equipaggiata con nuove schede scanner a 128 canali, che permettono configurazioni oltre 4.400 canali, ideali per le esigenze di test più complesse. L’area di test ampliata può essere configurata come sistema a singolo o doppio stadio e la sua architettura multi-job, supportata dalla nuova versione del software VIVA™ con un’interfaccia operatore rinnovata, migliora la facilità d’uso sia per i programmatori che per gli operatori. L’accesso facilitato ai moduli hardware interni garantisce un’ergonomia eccellente, rendendo semplici ed efficienti le operazioni di manutenzione.
La Valid LR in esposizione è l’ultima generazione della piattaforma Seica progettata per includere le capacità necessarie a sostituire i sistemi legacy obsoleti, consentendo ai clienti di garantire la continuità dei processi di test consolidati grazie alla piena compatibilità con i programmi di test esistenti. Seica vanta un’esperienza senza pari nelle soluzioni di sostituzione legacy, con numerosi successi nel rimpiazzo di diverse marche di sistemi di test ormai obsoleti, permettendo ai clienti di mantenere un supporto logistico a lungo termine a costi competitivi.
L’architettura multi-risorsa nativa della Valid LR le conferisce la flessibilità e le prestazioni necessarie per la migrazione senza problemi di programmi e attrezzature di test esistenti, combinando la capacità di supportare tecnologie datate con strumenti moderni e ad alte prestazioni, utilizzabili anche nello sviluppo di nuovi programmi di test. VALID LR è progettata per garantire alta scalabilità e prestazioni, con un’architettura innovativa senza cavi, supportando fino a 5888 canali con un multiplexer digitale 1:8. Offre fino a 24 alimentatori programmabili, garantendo una gestione flessibile dei test di accensione. L’interfaccia operatore, intuitiva e personalizzabile, è basata su un sistema PLC con comunicazione OPC-UA per un’integrazione fluida negli ambienti di test moderni.
La nuova linea S20, in esposizione, include due soluzioni dedicate al collaudo dei semiconduttori di potenza.
La S20 IS³ offre una soluzione all’avanguardia per il collaudo di dispositivi di potenza discreti, incluse le tecnologie SiC e GaN. Progettata sia per test statici AC e DC che dinamici, permette la caratterizzazione accurata e ripetibile dei parametri elettrici, un processo fondamentale per garantire affidabilità e prestazioni di componenti come IGBT, MOSFET e diodi, rendendola uno strumento essenziale per R&D, produzione e controllo qualità. I test statici misurano parametri chiave come tensione di conduzione (Vce, Vds), corrente di perdita (Ic, Id) e tensione di soglia (Vth), mentre i test dinamici valutano le caratteristiche di commutazione, inclusi tempi di accensione/spegnimento, tempi di salita/discesa e perdite energetiche.
Questa doppia caratterizzazione consente ai produttori di rilevare potenziali guasti prima che i componenti vengano integrati nei sistemi di potenza, evitando costosi guasti sul campo e garantendo prestazioni ottimali in condizioni operative reali.
La S20 IS³ ha un design compatto e salvaspazio, con integrazione in un’unica unità di test DC-Static, Gate e AC-Dynamic. Il sistema è configurabile, consentendo all’utente di includere i moduli necessari oggi, ed espandibile con ulteriori moduli in futuro. Il software integrato ad alto livello, guidato da menu, è intuitivo e semplifica la configurazione dei test, mentre funzionalità come l’oscilloscopio integrato facilitano il debug e garantiscono la completa tracciabilità dei risultati di test.
Il sistema di test S20 RTH è progettato per fornire una precisa caratterizzazione della resistenza termica (RTH) con avanzate capacità di gestione della potenza e del raffreddamento. Nei moderni progetti di alimentatori, grande attenzione è rivolta all’efficienza elettrica complessiva e alla temperatura di giunzione dei dispositivi semiconduttori.
Questo tipo di test valuta lo stress termico sui MOSFET di potenza utilizzati negli alimentatori switching, consentendo di prevedere la temperatura raggiunta all’interno della giunzione e il margine di sicurezza o dissipatore necessario per garantire che il sistema abbia un’adeguata riserva termica durante il funzionamento. Questo approccio è fondamentale perché un calcolo corretto permette di stimare più accuratamente la durata dei componenti e assicura un funzionamento sicuro entro l’area operativa consentita.
L’hardware di commutazione di potenza di Seica è un elemento chiave dell’architettura di test, consentendo uno spegnimento controllato e programmabile della corrente di carico che minimizza le oscillazioni e permette al sistema di eseguire misure precise già dopo 80µs dall’interruzione dell’alta corrente. La configurazione del banco è scalabile, da 2 a 12 dispositivi in prova (DUT) testati in parallelo, in base alle esigenze di produttività. Temperatura, flusso e pressione del refrigerante per ciascun DUT sono misurati e controllati automaticamente, ottimizzando la stabilità termica e garantendo misurazioni affidabili. Lo spurgo dei liquidi di raffreddamento è gestito dal sistema, sia in un serbatoio indipendente che nel sistema impiantistico dell’utente. Questa funzione semplifica notevolmente le operazioni di setup iniziale e può gestire temperature fino a 120°C e portate fino a 100 l/min.
