Seica a Productronica: A Powerhouse of Smart Innovation, High Performance and Integrated Solutions.
Il coinvolgimento attivo verso i clienti nel comprenderne esigenze e sfide, unito alla profonda competenza acquisita in decenni di esperienza nello sviluppo di soluzioni di test in grado di soddisfarle, ha reso Seica un motore di innovazione intelligente, in grado di fornire soluzioni di test integrate all’avanguardia e ad elevate prestazioni. Durante Productronica i visitatori dello stand A1-538 del Gruppo Seica potranno vedere le ultime soluzioni dedicate al test di schede elettroniche, di moduli e dei semiconduttori e, poiché l’automazione è diventata un fattore chiave nell’ottimizzazione dei processi di produzione odierni, verranno presentate soluzioni strategiche ed innovative. Seica, inoltre, durante la manifestazione aprirà ufficialmente i festeggiamenti per il 40° Anniversario, che avrà luogo nel 2026.
Pilot VX, la soluzione Flying Probe più prestigiosa di Seica, sarà presentata con una piattaforma dal design rinnovato e moderno, con opzioni esclusive come FlyPod e FlyStrain™ e la gestione ottimizzata del Software VIVA. Pilot VX è lo standard di riferimento in termini di velocità e prestazioni dei sistemi flying probe ed è una risorsa estremamente potente, implementabile e perfetta per ogni fase dell’odierno accelerato ciclo di vita dei prodotti, ideale dall’ideazione alla progettazione, dal prototipo alla produzione.
PILOT VX è completamente automatizzato e la sua architettura meccanica all’avanguardia, con i controller di movimento proprietari, consentono una riduzione fino al 50% dei tempi di test. Dispone di 12 teste multifunzione, che offrono la possibilità di eseguire test su entrambi i lati delle schede con un massimo di 60 punti di contatto in contemporanea, e di un hardware di misurazione tecnologicamente avanzato. Si aggiungono la possibilità di alimentare la UUT (fino a 2 A per sonda) tramite tutte le 8 sonde elettriche standard e una nuova tecnica di misurazione basata sulle microonde che garantisce prestazioni di test senza pari e una nuova generazione di sensori LED che combinano sensori visibili e a infrarossi in un’unica unità all-in-one, oppure un oscilloscopio volante da oltre 750 MHz per superare nuovi limiti nelle applicazioni ad alta frequenza. La piattaforma software VIVA™ consente di risparmiare ancora più tempo grazie alla parallelizzazione di diversi tipi di test, mentre le funzionalità di analisi intelligente basate sui principi dell’intelligenza artificiale possono ottimizzare automaticamente il flusso di test in tempo reale.
I visitatori potranno inoltre vedere due nuove soluzioni, le ultime aggiunte alla piattaforma VALID di Seica, rinomata per il test in-circuit e funzionale ad alte prestazioni tramite bed-of-nails o receiver fisso standard industriale. Il sistema Valid SL sarà presentato in una linea di produzione PCBA completamente automatizzata, con moduli di carico/scarico Seica Automation, applicatore di etichette e trasportatori. Il design consente una facile integrazione in ambienti di produzione ad alto volume, offrendo flessibilità, risparmio sui costi e maggiore produttività. La sua architettura senza cavi garantisce integrità e affidabilità ottimali, nonché una manutenzione a lungo termine, ed è dotata di nuove schede scanner a 128 canali, che consentono configurazioni di oltre 4.400 canali, ideali per i requisiti di test più complessi. L’area di test standard ampliata può essere configurata come sistema a stadio singolo o doppio, e la sua architettura multi-job, supportata dalla nuova versione del software VIVA™, che include una nuova interfaccia operatore, migliora l’usabilità sia per i programmatori che per gli operatori. Il facile accesso ai moduli hardware interni del sistema garantisce un’eccellente ergonomia, rendendo le operazioni di manutenzione semplici ed efficienti.
Il Sistema Valid LR in esposizione è la piattaforma Seica di ultima generazione progettata per includere le funzionalità necessarie a sostituire i sistemi obsoleti, consentendo così ai clienti di garantire la continuità dei processi di test consolidati grazie alla piena compatibilità dei programmi di test. Seica vanta un’esperienza senza pari nella fornitura di soluzioni di Legacy Replacement, con un successo consolidato nel rimpiazzo di numerosi brand, garantendo allo stesso tempo un supporto logistico a lungo termine e costi competitivi. L’architettura multi-risorsa del VALID LR conferisce la flessibilità e le prestazioni necessarie per la migrazione dei programmi di test e dei dispositivi di fissaggio esistenti, combinando la capacità di supportare tecnologie meno recenti con strumenti all’avanguardia e ad alte prestazioni, strumenti disponibili anche per lo sviluppo di nuovi programmi di test. Questa piattaforma è progettata per garantire un’elevata scalabilità e prestazioni top, con un’architettura innovativa e senza cavi, in grado di supportare fino a 5888 canali con un multiplexer digitale 1:8. Offre fino a 24 alimentatori programmabili, garantendo una gestione flessibile dei test di accensione. L’interfaccia operatore intuitiva e personalizzabile è basata su un sistema PLC con comunicazione OPC-UA per una perfetta integrazione nei moderni ambienti di test.
La nuova linea S20 presentata allo stand A1-538 comprende due soluzioni dedicate al test dei semiconduttori di potenza. S20 IS³ offre una soluzione all’avanguardia per il collaudo di dispositivi di potenza discreti, comprese le tecnologie SiC e GaN. Progettato per prove statiche e dinamiche sia in corrente alternata che in corrente continua, esegue la caratterizzazione accurata e ripetibile dei parametri elettrici, un processo cruciale per garantire l’affidabilità e le prestazioni di componenti quali IGBT, MOSFET e diodi, rendendolo uno strumento essenziale per la ricerca e sviluppo, la produzione e il controllo qualità. I test statici misurano parametri chiave come la tensione allo stato attivo (Vce, Vds), la corrente di dispersione (Ic, Id) e la tensione di soglia (Vth), garantendo che il dispositivo soddisfi le specifiche elettriche, mentre i test dinamici valutano le caratteristiche di commutazione, tra cui i tempi di accensione/spegnimento, i tempi di salita/discesa e le perdite di energia, che sono fondamentali per le applicazioni reali. Testando sia i parametri statici che quelli dinamici, i produttori possono rilevare potenziali guasti prima che i componenti vengano integrati nei sistemi di alimentazione, evitando così costosi guasti sul campo e certificando che i dispositivi funzioneranno in modo ottimale nelle condizioni operative.
Il tester S20 IS³ ha un design compatto e salvaspazio, con integrazione in un unico box dei test DC-Static, Gate e AC-Dynamic. Il sistema è configurabile, quindi l’utente può includere i moduli per eseguire i test necessari oggi, ed è espandibile, consentendo l’aggiunta di ulteriori moduli per soddisfare nuovi requisiti di test futuri. Il software integrato di alto livello, guidato da menu, è facile da usare, semplifica la configurazione dei test e una serie di funzioni, come l’oscilloscopio integrato e il processo di debug, e fornisce, inoltre, la completa tracciabilità dei risultati dei test.
Il sistema di test S20 RTH è progettato per fornire una caratterizzazione precisa della resistenza termica (RTH) con funzionalità avanzate di gestione dell’alimentazione e del raffreddamento. Nella progettazione dei moderni alimentatori, viene prestata maggiore attenzione all’efficienza elettrica dell’intero sistema e alla temperatura di giunzione dei dispositivi a semiconduttori. Questo tipo di test valuta lo stress termico sui dispositivi MOSFET di potenza quando vengono utilizzati negli alimentatori a commutazione. Grazie a questo calcolo e alle caratteristiche fisiche del dispositivo, è possibile prevedere la temperatura raggiunta all’interno della giunzione e il margine consentito o il dissipatore di calore necessario per garantire che il sistema abbia un margine termico adeguato durante il funzionamento. Questo approccio è fondamentale perché un calcolo corretto consente una valutazione più accurata della durata dei componenti/dispositivi e garantisce il funzionamento all’interno dell’area di sicurezza.
L’hardware di commutazione dell’alimentazione di Seica è un elemento chiave dell’architettura di test, che consente uno spegnimento controllato e programmabile della corrente di carico che riduce al minimo le oscillazioni, permettendo così al sistema di eseguire misurazioni precise già 80 µs dopo lo spegnimento dell’alta corrente. La configurazione del banco è scalabile, a partire da 2 DUT (Devices Under Test) fino a 12 DUT testati in parallelo, a seconda delle esigenze di produttività. La temperatura, il flusso e la pressione del liquido di raffreddamento di ciascun DUT sono misurati e controllati automaticamente dal sistema, ottimizzando la stabilità termica e garantendo misurazioni affidabili. Lo spurgo dei liquidi di raffreddamento è gestito dal sistema in un serbatoio autonomo o nel sistema dell’impianto. Questa funzione semplifica notevolmente le operazioni di configurazione iniziale e può gestire temperature fino a 120 °C e portate fino a 100 l/min.
